描述:可测定单缝、双缝、光栅、圆孔等衍射、干涉条纹的光强分布及偏振光强变化。配有的数显式检流计方形导轨长1.2m,中心高200mm 含半导体激光器
可测定单缝、双缝、光栅、圆孔等衍射、干涉条纹的光强分布及偏振光强变化。配有的数显式检流计方形导轨长1.2m,中心高200mm
含半导体激光器
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